详细摘要： F3-sX系列膜厚仪F3-sX系列膜厚仪能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度不好；波长选配F3-sX系列使用近...
产品型号：F3-sX系列所在地：上海更新时间：2023-05-09 在线留言上海纳嘉仪器有限公司
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